JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Хомченко, А. В. | |
| dc.date.accessioned | 2019-02-04T11:31:34Z | |
| dc.date.available | 2019-02-04T11:31:34Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Хомченко, А. В. Измерение спектров поглощения тонких пленок волноводным методом / А. В. Хомченко // Известия Российской академии наук, Серия физическая. – 2016. – Т. 80. – № 4. – С. 471-476. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8559 | |
| dc.description.abstract | Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. Погрешность измерения поглощения пленки толщиной ~0.1 мкм не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения менее 50 см–1. Обсуждаются возможности и ограничения метода. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ФГБУ "Российская академия наук" | ru_RU |
| dc.subject | спектры поглощения тонких пленок | ru_RU |
| dc.subject | тонкопленочные структуры | ru_RU |
| dc.subject | тонкопленочный волновод | ru_RU |
| dc.subject | волноводная спектроскопия | ru_RU |
| dc.subject | эллипсометрия | ru_RU |
| dc.subject | Публикации кафедры "Физика" | |
| dc.title | Измерение спектров поглощения тонких пленок волноводным методом | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 535.32:621.378 |
