Внутрирезонаторная волноводная спектроскопия тонких пленок

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Шульга, А. В.
dc.contributor.author Хомченко, А. В.
dc.contributor.author Шилова, И. В.
dc.date.accessioned 2019-02-04T13:46:13Z
dc.date.available 2019-02-04T13:46:13Z
dc.date.issued 2018
dc.identifier.citation Шульга, А. В. Внутрирезонаторная волноводная спектроскопия тонких пленок / А. В. Шульга, А. В. Хомченко, И. В. Шилова // Письма в ЖТФ – 2018. – Т. 44. – № 21. – С. 3-9. ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8569
dc.description.abstract Предложен метод внутрирезонаторной волноводной спектроскопии для измерения малых оптических потерь в тонких пленках, который также позволяет осуществлять дискриминацию поперечных и продольных мод в лазерах с малым коэффициентом усиления без внесения в резонатор значительных потерь. ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Физика"
dc.subject Публикации кафедры "Техносферная безопасность и производственный дизайн"
dc.subject внутрирезонаторная волноводная спектроскопия ru_RU
dc.subject малые оптические потери в тонких пленках ru_RU
dc.subject тонкопленочные диэлектрические структуры ru_RU
dc.title Внутрирезонаторная волноводная спектроскопия тонких пленок ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Thumbnail
Имя: 38f.pdf
Размер: 257.4Kb
Формат: PDF
Описание: Текст статьи
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию