Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Романенко, А. А. | |
dc.contributor.author | Хомченко, А. В. | |
dc.contributor.author | Сотский, А. Б. | |
dc.contributor.author | Глазунов, Е. В. | |
dc.date.accessioned | 2016-05-27T06:33:51Z | |
dc.date.available | 2016-05-27T06:33:51Z | |
dc.date.issued | 2006 | |
dc.identifier.citation | Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии / А. А. Романенко [и др.] // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2006. - № 2. - С. 154-159 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/887 | |
dc.description.abstract | Рассмотрены возможности интегрально-оптического метода измерения параметров тонких пленок, основанного на анализе угловой зависимости светового пучка, отраженного от призменного устройства возбуждения мод оптического диапазона в тонкопленочной структуре. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | волноводная спектроскопия | ru_RU |
dc.subject | тонкопленочные структуры | ru_RU |
dc.subject | световые пучки | ru_RU |
dc.subject | измерения параметров | ru_RU |
dc.subject | интегрально-оптические методы | ru_RU |
dc.subject | Публикации кафедры "Физика" | |
dc.subject | Публикации кафедры "Высшая математика" | |
dc.title | Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |