Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии

Романенко, А. А.; Хомченко, А. В.; Сотский, А. Б.; Глазунов, Е. В.

DSpace Home
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2006
→
№ 2
→
View Item

dc.contributor.author	Романенко, А. А.
dc.contributor.author	Хомченко, А. В.
dc.contributor.author	Сотский, А. Б.
dc.contributor.author	Глазунов, Е. В.
dc.date.accessioned	2016-05-27T06:33:51Z
dc.date.available	2016-05-27T06:33:51Z
dc.date.issued	2006
dc.identifier.citation	Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии / А. А. Романенко [и др.] // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2006. - № 2. - С. 154-159	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/887
dc.description.abstract	Рассмотрены возможности интегрально-оптического метода измерения параметров тонких пленок, основанного на анализе угловой зависимости светового пучка, отраженного от призменного устройства возбуждения мод оптического диапазона в тонкопленочной структуре.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	тонкие пленки	ru_RU
dc.subject	волноводная спектроскопия	ru_RU
dc.subject	тонкопленочные структуры	ru_RU
dc.subject	световые пучки	ru_RU
dc.subject	измерения параметров	ru_RU
dc.subject	интегрально-оптические методы	ru_RU
dc.subject	Публикации кафедры "Физика"
dc.subject	Публикации кафедры "Высшая математика"
dc.title	Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU