Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Труды сотрудников
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 10 из 16 всего результатов для сообщества: Труды сотрудников.
(0.0 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-10 из 16
1
2
Следующая страница
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Поляризационная интерферометрия неоднородных анизотропных сред
Хомченко, А. В.
;
Примак, И. У.
;
Василенко, А. Н.
(
УО "Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины"
,
2017
)
Поляризационная интерферометрия напряженных состояний в стекле
Хомченко, А. В.
(
МГУ имени А.А. Кулешова
,
2018
)
Измерение распределения разности фаз при линейном двулучепреломлении в твердых телах с внутренними напряжениями
Хомченко, А. В.
;
Примак, И. У.
;
Василенко, А. Н.
(
ГГУ им. Франциска Скорины
,
2016
)
Измерение ширины спектра излучения волноводным методом
Шульга, А. В.
;
Хомченко, А. В.
(
ГНУ Институт физики им. Б.И. Степанова НАН Беларуси
,
2013
)
Рефлектометрические методы исследования наноразмерных металлических слоев на подложке
Хомченко, А. В.
;
Примак, И. У.
;
Сотский, А. Б.
;
Корнеева, И. А.
;
Крекотень, Н. А.
;
Петлицкий, А. Н.
(
ФГБУ "Российская академия наук"
,
2016
)
Измерение спектров поглощения тонких пленок волноводным методом
Хомченко, А. В.
(
ФГБУ "Российская академия наук"
,
2016
)
Влияние газовых примесей на фотоэлектрические свойства тонкопленочных наноструктур полупроводник – диэлектрик
Коваленко, О. Е.
;
Хомченко, А. В.
;
Гузовский, В. Г.
;
Корнеева, И. А.
(
МГУ имени А.А. Кулешова
,
2012
)
Оценка остаточных напряжений в стекле на основе анализа рассеянного света
Василенко, А. Н.
;
Примак, И. У.
;
Хомченко, А. В.
(
МГУ имени А.А. Кулешова
,
2018
)
Измерение профиля двулучепреломления на основе анализа рассеянного изучения
Василенко, А. Н.
;
Примак, И. У.
;
Хомченко, А. В.
(
МИФИ
,
2018
)
Рефлектометрия наноразмерных слоев на кремниевой подложке
Примак, И. У.
;
Хомченко, А. В.
;
Казаченко, Н. И.
(
ГГУ им. Ф. Скорины
,
2018
)
Отображаемые элементы 1-10 из 16
1
2
Следующая страница
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Этот раздел
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Хомченко, А. В. (16)
Примак, И. У. (8)
Василенко, А. Н. (6)
Шульга, А. В. (4)
Корнеева, И. А. (2)
Шилова, И. В. (2)
Гузовский, В. Г. (1)
Казаченко, Н. И. (1)
Катькало, А. А. (1)
Коваленко, О. Е. (1)
... больше
Теме
Публикации кафедры "Физика" (16)
Публикации кафедры "Высшая математика" (5)
закаленные стекла (3)
остаточные напряжения (3)
поляриметрия (3)
birefringence distribution (2)
measurement technique (2)
polarimetry (2)
tempered glass (2)
метод измерения (2)
... больше
Дате публикации
2018 (7)
2016 (5)
2010 (1)
2012 (1)
2013 (1)
2017 (1)
Has File(s)
Yes (16)