Browsing by Author "Ivashkevich, I. V."

Browsing by Author "Ivashkevich, I. V."

Sort by: Order: Results:

  • Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Михеев, С. С.; Staskov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Mikheev, S. S. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor ...
  • Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок 
    Ивашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Ivashkevich, I. V.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Методом спектральной эллипсометрии получены дисперсионные зависимости показателей преломления и поглощения пленок PEDOT:PSS и йодсвинцового перовскита. Obtained dispersion dependence of the refractive index and absorption ...
  • Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. И.; Stas’kov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Sotski, A. B.; Sotskaya, L. I. (2012)
    Исследуется возможность исключения влияния естественного поверхностного слоя при определении методом спектральной эллипсометрии дисперсии показателей преломления n(λ) и поглощения k(λ) полупроводниковой подложки. Показано, ...

Search DSpace

Browse

My Account