Browsing by Author "Staskov, N. I."

Browsing by Author "Staskov, N. I."

Sort by: Order: Results:

  • Оптические характеристики отожженных золь-гель пленок оксида кремния, чистых и легированных лантаноидами пленок титаната бария на кремниевых подложках 
    Стаськов, Н. И.; Чудаков, Е. А.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. И.; Гапоненко, Н. В.; Лашковская, Е. И.; Лаврентьев, А. К.; Staskov, N. I.; Chudakov, E. A.; Sotsky, A. B.; Sotskaya, L. I.; Gaponenko, N. V.; Lashkovskaya, E. I.; Lavrentiev, A. K. (БГУ, 2023)
    Для моделирования антибликовых покрытий, интерференционных зеркал и микрорезонаторов по измеренным в s и p поляризованном свете отражательным способностям с помощью разработанного программного обеспечения рассчитаны ...
  • Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Михеев, С. С.; Staskov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Mikheev, S. S. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor ...
  • Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок 
    Ивашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Ivashkevich, I. V.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Методом спектральной эллипсометрии получены дисперсионные зависимости показателей преломления и поглощения пленок PEDOT:PSS и йодсвинцового перовскита. Obtained dispersion dependence of the refractive index and absorption ...
  • Спектрофотометрия неоднородного слоя титаната бария, допированного европием 
    Сотская, Л. И.; Стаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Гапоненко, Н. В.; Лашковская, Е. И.; Ещик, Т. Н.; Sotskaya, L. I.; Staskov, N. I.; Sotsky, A. B.; Gaponenko, N. V.; Lashkovskaya, E. I.; Eschik, T. M. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Разработан алгоритм решения обратной оптической задачи спектрофотометрии неоднородного поглощающего слоя, основанный на полиномиальных представлениях для пространственной и спектральной зависимостей его диэлектрической ...
  • Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 
    Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Ширина запрещенной зоны слоя оксида цинка с двухпроцентным содержанием алюминия, определенная по спектрам пропускания и отражения, удовлетворительно коррелирует с соответствующей величиной из формулы Adachi-New Forouhi по ...

Search DSpace

Browse

My Account