Abstract:
Для моделирования антибликовых покрытий, интерференционных зеркал и микрорезонаторов по измеренным в s и p поляризованном свете отражательным способностям с помощью разработанного программного обеспечения рассчитаны оптические и геометрические параметры отожженных золь-гель пленок BaTiO3, SiO2, BaTiO3:(Er, Yb) на кремниевых подложках. To model anti-reflective coatings, interference mirrors and microcavities using reflectivities measured in s and p polarized light, the optical and geometric parameters of annealed sol-gel films BaTiO3, SiO2, BaTiO3:(Er, Yb) on silicon substrates were calculated using the developed software.
