Browsing by Author "Svistun, A. I."

Browsing by Author "Svistun, A. I."

Sort by: Order: Results:

  • Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии 
    Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В.; Pantsialeyeu, K. Y.; Tyavlovsky, A. K.; Svistun, A. I.; Zharin, A. L.; Samarina, A. Y. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий ...
  • Измерительный преобразователь систем оптической диагностики с фотоприемником на основе полупроводника с собственной проводимостью 
    Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Vorobey, R. I.; Gusev, O. K.; Svistun, A. I.; Tyavlovsky, K. L.; Shadurskaya, L. I. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Рассмотрены вопросы построения измерительных преобразователей систем дистанционной оптической диагностики. Использование одноэлементных многофункциональных фотоприемников на основе собственных полупроводников с глубокими ...
  • Контроль напряженно-деформированного состояния полимерных материалов методом контактной разности потенциалов 
    Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Микитевич, В. А.; Жарин, А. Л.; Pantsialeyeu, K. U.; Svistun, A. I.; Mikitsevich, U. A.; Zharin, A. L. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    В работе приводятся результаты исследований напряженно-деформированного состояния полимерных материалов с помощью сканирующего зонда Кельвина (метод контактной разности потенциалов). Распределение электростати-ческого ...
  • Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин 
    Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Самарина, А. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Vorobey, R. I.; Gusev, O. K.; Zharin, A. L.; Pantsialeyeu, K. Y.; Samarina, A. Y.; Svistun, A. I.; Tyavlovsky, A. K.; Tyavlovsky, K. L. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем ...

Search DSpace

Browse

My Account