JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В.; Pantsialeyeu, K. Y.; Tyavlovsky, A. K.; Svistun, A. I.; Zharin, A. L.; Samarina, A. Y.
Приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС. The paper describes methodical and experimental results of studies of the light action on the electronic subsystem of polymer composites. For monitoring, the Scanning Kelvin probe is used. An analysis of the electropotential profile heterogeneity and the surface photovoltage is the basis of the control technique.
