Abstract:
Рассмотрены особенности применения поляризационной модуляции при измерении угла поворота плоскости поляризации зондирующего излучения оптически активным веществом. Выполнен анализ поляризации света на основе формализма матриц Джонса. Получена оценка чувствительности метода при исследовании свойств оптически активных материалов. The features of using polarization modulation when measuring the angle of rotation of the plane of polarization of the incident light by an optically active material are considered. The analysis of light polarization is carried out on the basis of the Jones matrix formalism. An estimate of the sensitivity of the method is obtained when studying the properties of optically active materials.
