Сравнительный анализ изображений дефектов при различных технологиях ультразвукового контроля промышленных объектов
Войти
русский
English
Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Студенческая научно-техническая конференция Белорусско-Российского университета
→
56-я студенческая научно-техническая конференция, 21-22 мая 2020
→
Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Сравнительный анализ изображений дефектов при различных технологиях ультразвукового контроля промышленных объектов
Никеев, А. М.
;
Михеенко, С. В.
URI:
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/15408
Дата:
2020
Показать полную информацию
Файлы в этом документе
Имя:
131.pdf
Размер:
238.3Kb
Формат:
PDF
Открыть
Данный элемент включен в следующие коллекции
56-я студенческая научно-техническая конференция, 21-22 мая 2020
[197]
Поиск
Поиск
В этой коллекции
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Эта коллекция
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация