Abstract:
Разработана методика расчета коэффициента отражения пленки, визуализирующей магнитные поля в процессе контроля ферромагнитных объектов. Получены математические выражения, произведен аналитический расчет и определен характер изменения коэффициента отражения света от визуализирующей магнитные поля пленки в зоне индикаторных рисунков различных типов дефектов сплошности с учетом их формы, параметров и глубины залегания при контроле объектов в приложенном поле для случая, когда внешний световой поток направлен перпендикулярно поверхности пленки.
