Abstract:
Разработан алгоритм решения обратной задачи спектрофотометрии слоев
интерференционных покрытий в ходе их напыления. Представлены результаты обработки
динамических спектров отражения для двухслойного покрытия SiO2 –ZrO2 на подложке из
стекла К8. An algorithm for solving the inverse problem of spectrophotometry of layers of
interference coatings during their deposition has been developed. The results of processing the
dynamic reflection spectra for a two-layer SiO2 –ZrO2 coating on a K8 glass substrate are presented.
