Рефлектометрические методы диагностики наноразмерных металлических слоев на подложке

Рефлектометрические методы диагностики наноразмерных металлических слоев на подложке

Хомченко, А. В.; Примак, И. У.; Корнева, И. А.; Стаськов, Н. И.; Крекотень, Н. А.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/35339
Дата: 2014

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Icon
Имя: 195-197.pdf
Размер: 515.2Kb
Формат: PDF
Описание: тезисы
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции