Рефлектометрические методы диагностики наноразмерных металлических слоев на подложке

Хомченко, А. В.; Примак, И. У.; Корнева, И. А.; Стаськов, Н. И.; Крекотень, Н. А.

Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
2014 (24-25 сентября)
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Хомченко, А. В.
dc.contributor.author	Примак, И. У.
dc.contributor.author	Корнева, И. А.
dc.contributor.author	Стаськов, Н. И.
dc.contributor.author	Крекотень, Н. А.
dc.date.accessioned	2023-07-26T07:30:57Z
dc.date.available	2023-07-26T07:30:57Z
dc.date.issued	2014
dc.identifier.citation	Хомченко, А. В. Рефлектометрические методы диагностики наноразмерных металлических слоев на подложке / А. В. Хомченко, И. У. Примак, И. А. Корнеева, Н. И. Стаськов, Н. А. Крекотень // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : материалы 5-й междунар. науч.-техн. конф. / М-во образования Респ. Беларусь, М-во образования и науки Рос. Федерации, Белорус.-Рос. ун-т ; редкол. : И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. — Могилев : Белорус.- Рос. ун-т, 2014. – С. 195-197	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/35339
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.title	Рефлектометрические методы диагностики наноразмерных металлических слоев на подложке	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU