Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Понкратов Д. В. | ru |
dc.contributor.author | Сотский А. Б. | ru |
dc.contributor.author | Стаськов Н. И. | ru |
dc.contributor.author | Сергейчик А. А. | ru |
dc.contributor.author | Сотская Л. И. | ru |
dc.coverage.spatial | Могилев | ru |
dc.date.accessioned | 2024-10-04T12:42:57Z | |
dc.date.available | 2024-10-04T12:42:57Z | |
dc.date.issued | 2024 | |
dc.identifier.citation | Понкратов, Д. В. Обратная задача эллипсометрии объемных материалов с поверхностными слоями / Понкратов Д. В., Сотский А. Б., Стаськов Н. И., Сергейчик А. А., Сотская Л. И. // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов: сб. ст. 9-й Междунар. науч.-техн. конф. / М-во образования Респ. Беларусь, М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Белорус.-Рос. ун-т, Ин-т прикладной физики НАН Беларуси, Научный совет Межд. ассоциации академий наук по неразрушающему контролю и техн. диагностике, Рос. общество по неразрушающему контролю и техн. диагностике; редкол.: М. Е. Лустенков (гл. ред.) [и др.]. – Могилев: Белорус.-Рос. ун-т, 2024. – С. 158-164. | ru |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/43719 | |
dc.description.abstract | Предложен метод решения обратной задачи эллипсометрии о восстановлении диэлектрической проницаемости подложки при наличии на ее поверхности наноразмерного слоя с неизвестными заранее характеристиками. Решение использует поляризационные углы, измеренные при двух углах падения света на структуру, и определяет диэлектрическую проницаемость подложки одновременно с интегральным параметром, характеризующим поверхностный слой. Подход применен к спектральной эллипсометрии кремния с поверхностными слоями. Определены дисперсионные характеристики и ширина запрещенной зоны кремния, легированного бором, марки КДБ-12, поверхность которого пассивирована методом быстрой термической обработки. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru |
dc.subject | обратная задача эллипсометрии | ru |
dc.subject | наноразмерный поверхностный слой | ru |
dc.subject | кремниевая подложка | ru |
dc.subject | интегральные соотношения | ru |
dc.subject | запрещенная зона | ru |
dc.title | Обратная задача эллипсометрии объемных материалов с поверхностными слоями | ru |
dc.type | Article | ru |