Обратная задача эллипсометрии объемных материалов с поверхностными слоями

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Понкратов Д. В. ru
dc.contributor.author Сотский А. Б. ru
dc.contributor.author Стаськов Н. И. ru
dc.contributor.author Сергейчик А. А. ru
dc.contributor.author Сотская Л. И. ru
dc.coverage.spatial Могилев ru
dc.date.accessioned 2024-10-04T12:42:57Z
dc.date.available 2024-10-04T12:42:57Z
dc.date.issued 2024
dc.identifier.citation Понкратов, Д. В. Обратная задача эллипсометрии объемных материалов с поверхностными слоями / Понкратов Д. В., Сотский А. Б., Стаськов Н. И., Сергейчик А. А., Сотская Л. И. // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов: сб. ст. 9-й Междунар. науч.-техн. конф. / М-во образования Респ. Беларусь, М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Белорус.-Рос. ун-т, Ин-т прикладной физики НАН Беларуси, Научный совет Межд. ассоциации академий наук по неразрушающему контролю и техн. диагностике, Рос. общество по неразрушающему контролю и техн. диагностике; редкол.: М. Е. Лустенков (гл. ред.) [и др.]. – Могилев: Белорус.-Рос. ун-т, 2024. – С. 158-164. ru
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/43719
dc.description.abstract Предложен метод решения обратной задачи эллипсометрии о восстановлении диэлектрической проницаемости подложки при наличии на ее поверхности наноразмерного слоя с неизвестными заранее характеристиками. Решение использует поляризационные углы, измеренные при двух углах падения света на структуру, и определяет диэлектрическую проницаемость подложки одновременно с интегральным параметром, характеризующим поверхностный слой. Подход применен к спектральной эллипсометрии кремния с поверхностными слоями. Определены дисперсионные характеристики и ширина запрещенной зоны кремния, легированного бором, марки КДБ-12, поверхность которого пассивирована методом быстрой термической обработки. ru
dc.language.iso ru ru
dc.publisher Белорусско-Российский университет ru
dc.subject обратная задача эллипсометрии ru
dc.subject наноразмерный поверхностный слой ru
dc.subject кремниевая подложка ru
dc.subject интегральные соотношения ru
dc.subject запрещенная зона ru
dc.title Обратная задача эллипсометрии объемных материалов с поверхностными слоями ru
dc.type Article ru


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию