dc.contributor.author |
Пантелеев, К. В. |
|
dc.contributor.author |
Тявловский, А. К. |
|
dc.contributor.author |
Свистун, А. И. |
|
dc.contributor.author |
Жарин, А. Л. |
|
dc.contributor.author |
Самарина, А. В. |
|
dc.contributor.author |
Pantsialeyeu, K. Y. |
|
dc.contributor.author |
Tyavlovsky, A. K. |
|
dc.contributor.author |
Svistun, A. I. |
|
dc.contributor.author |
Zharin, A. L. |
|
dc.contributor.author |
Samarina, A. Y. |
|
dc.date.accessioned |
2017-10-02T08:05:30Z |
|
dc.date.accessioned |
2018-05-24T06:58:32Z |
|
dc.date.available |
2017-10-02T08:05:30Z |
|
dc.date.available |
2018-05-24T06:58:32Z |
|
dc.date.issued |
2017 |
|
dc.identifier.citation |
Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии / К. В. Пантелеев [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / редкол.: И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. - С. 155-159 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/4991 |
|
dc.description.abstract |
Приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС. The paper describes methodical and experimental results of studies of the light action on the electronic subsystem of polymer composites. For monitoring, the Scanning Kelvin probe is used. An analysis of the electropotential profile heterogeneity and the surface photovoltage is the basis of the control technique. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
сканирующий зонд Кельвина |
ru_RU |
dc.subject |
контактная разность потенциалов |
ru_RU |
dc.subject |
электростатический потенциал |
ru_RU |
dc.subject |
фото-ЭДС |
ru_RU |
dc.subject |
полимеры |
ru_RU |
dc.subject |
полимерные материалы |
ru_RU |
dc.subject |
полимерные композиционные материалы |
ru_RU |
dc.subject |
дефектоскопия |
ru_RU |
dc.subject |
зондовая электрометрия |
ru_RU |
dc.subject |
scanning Kelvin probe |
ru_RU |
dc.subject |
contact potential difference |
ru_RU |
dc.subject |
electrostatic potential |
ru_RU |
dc.subject |
photovoltage |
ru_RU |
dc.subject |
polymers |
ru_RU |
dc.subject |
polimer materials |
ru_RU |
dc.subject |
polimer composite materials |
ru_RU |
dc.subject |
defectoscopy |
ru_RU |
dc.subject |
probe electrometry |
ru_RU |
dc.title |
Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии |
ru_RU |
dc.title.alternative |
Non-destructive testing of polimer composite materials by probe electrometry techniques |
ru_RU |
dc.type |
Thesis |
ru_RU |