JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок
Ивашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Ivashkevich, I. V.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A.
Методом спектральной эллипсометрии получены дисперсионные зависимости показателей преломления и поглощения пленок PEDOT:PSS и йодсвинцового перовскита. Obtained dispersion dependence of the refractive index and absorption of films of PEDOT:PSS and iodine-lead perovskites of method of spectroscopic ellipsometry.
