Abstract:
В докладе сообщается о разработанном в ИПФ НАН Беларуси вихретоковом многочастотном толщиномере, у которого в процессе измерения толщины проводящего покрытия на проводящем основании частота тока возбуждения накладного преобразователя изменяется в некотором интервале. При определенных фиксированных значениях этой частоты производятся измерения фазы вносимой в преобразователь ЭДС и на основе анализа результатов измерений определяется толщина покрытия. The report reports on the eddy current multi-frequency thickness meter developed at the Institute of Applied Physics of the National Academy of Sciences of Belarus, in which, during the measurement of the thickness of the conductive coating on a conductive substrate, the frequency of the excitation current of the transducer changes in a certain interval. For certain fixed values of this frequency, measurements are made of the phase of the emf introduced into the transducer and, based on the analysis of the measurement results, the thickness of the coating is determined.