Abstract:
Рассмотрены особенности применения модуляционной поляриметрии для измерения двулучепреломления в тонкопленочных анизотропных материалах. Выполнен анализ поляризации света на основе формализма матриц Джонса. Получены оценки чувствительности метода при исследовании свойств анизотропных материалов малой толщины.
Peculiarities of using modulation polarimetry to measure birefringence in thin-film anisotropic materials are considered. The analysis of light polarization has been made based on the Jones matrix formalism. Estimates of sensitivity of the technique have been obtained when investigating properties of anisotropic materials with a small thickness.
