Волноводная спектроскопия тонких пленок

Show simple item record

dc.contributor.author Хомченко, А. В.
dc.date.accessioned 2019-02-01T10:41:45Z
dc.date.available 2019-02-01T10:41:45Z
dc.date.issued 2001
dc.identifier.citation Хомченко, А. В. Волноводная спектроскопия тонких пленок / А. В. Хомченко // Письма в ЖТФ. - 2001. - Т.27, вып.7. - С. 17-25. ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8542
dc.description.abstract Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. приведены спектры поглощения тонких пленок оксида олова и цинка в диапазоне длин волн 400-800 nm. Ошибка измерения спектра поглощения пленки толщиной 0.1 nm не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения 50 cm-1. Обсуждаются возможности и ограничения метода. ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе ru_RU
dc.subject волноводная спектроскопия ru_RU
dc.subject тонкие пленки ru_RU
dc.subject измерение спектров поглощения пленок ru_RU
dc.subject тонкие пленки оксида олова ru_RU
dc.subject тонкие пленки цинка ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Физика"
dc.title Волноводная спектроскопия тонких пленок ru_RU
dc.type Article ru_RU


Files in this item

Thumbnail
Name: 3.pdf
Size: 246.4Kb
Format: PDF
Description: Статья журнала
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Browse

My Account