Abstract:
Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. приведены спектры поглощения тонких пленок оксида олова и цинка в диапазоне длин волн 400-800 nm. Ошибка измерения спектра поглощения пленки толщиной 0.1 nm не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения 50 cm-1. Обсуждаются возможности и ограничения метода.