Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Хомченко, А. В. | |
dc.date.accessioned | 2019-02-01T10:41:45Z | |
dc.date.available | 2019-02-01T10:41:45Z | |
dc.date.issued | 2001 | |
dc.identifier.citation | Хомченко, А. В. Волноводная спектроскопия тонких пленок / А. В. Хомченко // Письма в ЖТФ. - 2001. - Т.27, вып.7. - С. 17-25. | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8542 | |
dc.description.abstract | Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. приведены спектры поглощения тонких пленок оксида олова и цинка в диапазоне длин волн 400-800 nm. Ошибка измерения спектра поглощения пленки толщиной 0.1 nm не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения 50 cm-1. Обсуждаются возможности и ограничения метода. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе | ru_RU |
dc.subject | волноводная спектроскопия | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | измерение спектров поглощения пленок | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки оксида олова | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки цинка | ru_RU |
dc.subject | Публикации кафедры "Физика" | |
dc.title | Волноводная спектроскопия тонких пленок | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |