Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Хомченко, А. В. | |
dc.contributor.author | Сотский, А. Б. | |
dc.contributor.author | Романенко, А. А. | |
dc.contributor.author | Глазунов, Е. В. | |
dc.contributor.author | Шульга, А. В. | |
dc.date.accessioned | 2019-02-01T11:51:31Z | |
dc.date.available | 2019-02-01T11:51:31Z | |
dc.date.issued | 2005 | |
dc.identifier.citation | Волноводный метод измерения параметров тонких пленок / А.В. Хомченко [и др.] // ЖТФ. - 2005. - Т.75, в.6. -С.98-106. | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8548 | |
dc.description.abstract | Предложен полноводный метод определения коэффициента поглощения, показателя преломления и толщины тонких пленок, основанный на регистрации угловой зависимости энергетического коэффициента отражения светового пучка в схеме призменного устройства связи. Рассмотрено применение метода для исследования характеристик тонкопленочных волноводов, диэлектрических покрытий и металлических пленок. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе | ru_RU |
dc.subject | полноводный метод определения коэффициента поглощения | ru_RU |
dc.subject | показатели преломления тонких пленок | ru_RU |
dc.subject | показатели толщины тонких пленок | ru_RU |
dc.subject | схема призменного устройства связи | ru_RU |
dc.subject | исследование характеристик тонкопленочных волноводов | ru_RU |
dc.subject | диэлектрические покрытия | ru_RU |
dc.subject | металлические пленки | ru_RU |
dc.subject | Публикации кафедры "Физика" | |
dc.subject | Публикации кафедры "Высшая математика" | |
dc.title | Волноводный метод измерения параметров тонких пленок | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |