Рассмотрены возможности методов волноводной спектроскопии для исследования свойств наноразмерных тонкопленочных структур. Данный подход основан на анализе фотоиндуцированных изменений в пространственном распределении интенсивности лазерного пучка, отраженного от призменного устройства возбуждения волноводной моды в исследуемой структуре.
