Рефлектометрические методы исследования свойств наноразмерных слоев на кремнии

Show simple item record

dc.contributor.author Хомченко, А. В.
dc.contributor.author Корнеева, И. А.
dc.contributor.author Примак, И. У.
dc.contributor.author Чудаковский, П. Я.
dc.date.accessioned 2016-05-31T06:32:47Z
dc.date.accessioned 2018-06-06T10:15:19Z
dc.date.available 2016-05-31T06:32:47Z
dc.date.available 2018-06-06T10:15:19Z
dc.date.issued 2014
dc.identifier.citation Хомченко, А. В. Рефлектометрические методы исследования свойств наноразмерных слоев на кремнии / А. В. Хомченко, И. А. Корнеева, И. У. Примак, П. Я. Чудаковский // Материалы, оборудование и ресурсосберегающие технологии : материалы международной научно-технической конференции, Могилев, 24-25 апреля 2014 г. / ред.: И. С. Сазонов [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2014.- С. 333-334 ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/949
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher Белорусско-Российский университет ru_RU
dc.subject рефлектометрические методы ru_RU
dc.subject наноразмерные структуры ru_RU
dc.subject оптический контроль ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Физика"
dc.title Рефлектометрические методы исследования свойств наноразмерных слоев на кремнии ru_RU
dc.type Thesis ru_RU


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Browse

My Account