О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок

О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок

Тимощенко, Е. В.; Юревич, Ю. В.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/14084
Date: 2013

Show full item record

Files in this item

Icon
Name: 190.pdf
Size: 271.4Kb
Format: PDF
Description: Тезисы
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Search DSpace


Browse

My Account