О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок

О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок

Тимощенко, Е. В.; Юревич, Ю. В.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/14084
Дата: 2013

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Icon
Имя: 190.pdf
Размер: 271.4Kb
Формат: PDF
Описание: Тезисы
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции