О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок

Тимощенко, Е. В.; Юревич, Ю. В.

dc.contributor.author	Тимощенко, Е. В.
dc.contributor.author	Юревич, Ю. В.
dc.date.accessioned	2020-12-29T07:43:50Z
dc.date.available	2020-12-29T07:43:50Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	Тимощенко, Е. В. О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок / Тимощенко, Е. В., Юревич, Ю. В. // Новые материалы, оборудование и технологии впромышленности: материалы междунар. науч.-техн.конф. молод. ученых / М-во образования Респ.Беларусь, М-во образования и науки Рос. Федерации,Белорус.-Рос. ун-т; редкол. : И. С. Сазонов (гл. ред.)[и др.]. – Могилев: Белорус.-Рос. ун-т, 2013. – C. 190	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/14084
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.title	О возможности использования свойств резонансного отражения для оценки параметров тонких пленок	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU
dc.identifier.udc	621.375