Оценка определения местоположения дефекта дифференциальным методом при панорамном сканировании объекта с низким разрешением
Login
русский
English
DSpace Home
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
2012 (26-27 сентября)
→
View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Оценка определения местоположения дефекта дифференциальным методом при панорамном сканировании объекта с низким разрешением
Хатьков, Д. Н.
URI:
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/35067
Date:
2012
Show full item record
Files in this item
Name:
103-105.pdf
Size:
293.7Kb
Format:
PDF
View/
Open
This item appears in the following Collection(s)
2012 (26-27 сентября)
[121]
Search DSpace
Search DSpace
This Collection
Browse
All of DSpace
Communities & Collections
By Issue Date
Authors
Titles
Subjects
This Collection
By Issue Date
Authors
Titles
Subjects
My Account
Login
Register
