Оценка определения местоположения дефекта дифференциальным методом при панорамном сканировании объекта с низким разрешением

Оценка определения местоположения дефекта дифференциальным методом при панорамном сканировании объекта с низким разрешением

Хатьков, Д. Н.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/35067
Дата: 2012

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Icon
Имя: 103-105.pdf
Размер: 293.7Kb
Формат: PDF
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции