Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала

Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала

Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Пантелеев, К. Л.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/4769
Date: 2017

Show full item record

Files in this item

Thumbnail
Name: 318_319.pdf
Size: 212.2Kb
Format: PDF
Description: тезисы
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Search DSpace


Browse

My Account