Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала

Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала

Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Пантелеев, К. Л.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/4769
Дата: 2017

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Thumbnail
Имя: 318_319.pdf
Размер: 212.2Kb
Формат: PDF
Описание: тезисы
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции