Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала

Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Пантелеев, К. Л.

Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Материалы, оборудование и ресурсосберегающие технологии
→
2017 (27-28 апреля)
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Жарин, А. Л.
dc.contributor.author	Тявловский, А. К.
dc.contributor.author	Пантелеев, К. Л.
dc.date.accessioned	2017-05-30T13:34:50Z
dc.date.accessioned	2018-05-24T13:49:09Z
dc.date.available	2017-05-30T13:34:50Z
dc.date.available	2018-05-24T13:49:09Z
dc.date.issued	2017
dc.identifier.citation	Жарин, А. Л. Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский, К. Л. Пантелеев // Материалы, оборудование и ресурсосберегающие технологии : материалы междунар. науч.-техн. конф., Могилев, 27-28 апреля 2017 г. / ред.: И. С. Сазонов [и др.]. - Могилев: Белорус.-Рос. ун-т, 2017. - С. 318-319	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/4769
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	дефекты	ru_RU
dc.subject	диэлектрики	ru_RU
dc.subject	зондовая электрометрия	ru_RU
dc.title	Определение скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии на основе анализа частотного спектра измерительного сигнала	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU