Аннотации:
Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor Zn0:Al film on the glass K8 substrate are determined by the methods of spectrophotometry and spectral ellipsometry.
