Рефлектометрия наноразмерных слоев в тонкопленочных структурах

Рефлектометрия наноразмерных слоев в тонкопленочных структурах

Василенко, А. Н.; Примак, И. У.; Хомченко, А. В.
URI: http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/661
Дата: 2016

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Thumbnail
Имя: док 136.pdf
Размер: 221.5Kb
Формат: PDF
Описание: тезисы
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции