Abstract:
Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. Погрешность измерения поглощения пленки толщиной ~0.1 мкм не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения менее 50 см–1. Обсуждаются возможности и ограничения метода.
